El objetivo de este encuentro es difundir la cultura metrológica y generar conciencia de la importancia de hacer mediciones con altos estándares de calidad y su relevancia en la obtención de resultados confiables. Asimismo, se busca motivar a estudiantes de licenciatura y posgrado en física, química, matemáticas, ingenierías y áreas afines, a que consideren a la Metrología como una opción de especialización y desarrollo profesional
Expositores
Héctor Vera – Instituto de Investigaciones sobre la Universidad y la Educación, UNAM
Saúl Gallardo Heredia – Centro Nacional de Metrología
Maribel López Martínez – entidad mexicana de acreditación a.c.
Eduardo Gutiérrez Peña – Instituto de Investigaciones en Matemáticas Aplicadas y en Sistemas, UNAM
Jesús Sánchez Ochoa – Escuela Superior de Ingeniería Química e Industrias Extractivas, IPN
Ogilvie Climaco Arvizu – Escuela Superior de Ingeniería Mecánica y Eléctrica Zacatenco, IPN
Christian Bouchot – Escuela Superior de Ingeniería Química e Industrias Extractivas, IPN
Tonantzin Ramírez Pérez – Metróloga
Fabrizzio Gómez Ramos – Unidad de Inspección MG3
Maurice Cox – National Physical Laboratory, Reino Unido
Mario Chavarría Castañeda – Escuela Superior de Física y Matemáticas, IPN
Dolores Cerón – Sistemas Integrales de Calibración y Aseguramiento Metrológico
Entrada libre, previo registro en:
https://sites.google.com/sigma.iimas.unam.mx/2encuentrodemetrologia/
Informes
eduardo@sigma.iimas.unam.mx