El objetivo de este encuentro es difundir la cultura metrológica y generar conciencia de la importancia de hacer mediciones con altos estándares de calidad y su relevancia en la obtención de resultados confiables. Asimismo, se busca motivar a estudiantes de licenciatura y posgrado en física, química, matemáticas, ingenierías y áreas afines, a que consideren a la Metrología como una opción de especialización y desarrollo profesional
Expositores
Prof. Maurice Cox (NPL Senior Fellow) – National Physical Laboratory, Reino Unido
Dr. Héctor Vera – Instituto de Investigaciones sobre la Universidad y la Educación, UNAM
Dr. Mario Chavarría – Escuela Superior de Física y Matemáticas, IPN
Dr. Christian Bouchot – Escuela Superior de Ingeniería Química e Industrias Extractivas, IPN
Informes
eduardo@sigma.iimas.unam.mx